GB/T11345-2013标准中横孔试块介绍

横孔试块的设计

1.1横孔试块的设计依据

该类试块的设计是依据GB/T11345-2013标准中的技术1要求:以直径为3mm的横孔作为参考反射体,制作距离幅度曲线(DAC);以及标准附录E中时基线和灵敏度设定的规定而设计。即横孔长度需满足e>2S/D.(e为横孔长度,入为波长,S为声程,D.为晶片有效直径);横孔长度应大于用-20dB法测得的声束宽度。当板t大于20mm 而小于等于40mm时,横孔埋深间距h=(d-10)/2;当板厚t>40 mm 时,横孔埋深间距 h≤(d-10)/2[2-4]

1.2 横孔长度的确定

1.2.1 不同长度横孔反射量差异试验分别加工了直径为3mm和长度分别为40、45、50、55mm的横孔,横孔端部带有 120°尖角的盲孔。横孔埋藏深度从80~240mm,每10mm 一档。试验时,分别选用频率2.5MHz与5MHz、晶片尺寸为10~20mm的探头,对上述不同长度和不同埋藏深度的横孔进行测试。表1为采用晶片尺寸为16 mm的探头对埋深120 mm 的横孔的测试结果。

试验结论:用同一探头测试埋藏深度相同的φ3mm横孔，来自长度分别为40、45、50、55 mm的反射回波幅度均为满屏80%时，灵敏度相差不大于 0.5 dB。

1.2.2 用-20dB法测定声束宽度试验分别加工了带有半径为100、140、160、200mm的阶梯半圆试块,选用不同频率(2.5,5 MHz)不同晶片尺寸和不同角度的探头，在不同声程位置进行声束宽度的测试对比。表2为按照GB/T11345-2013标准10.2的规定,采用-20dB法的部分测试结果(采用频率为2.5 MHz与5 MHz,测试数据基本相同)。

横孔试块的设计内容1.3

依据检测范围的不同,并且考虑到能同时满足横波检测和纵波检测的灵敏度设定的需要，共设计了五块试块,分别见图1和表3。其中试块代号SD为英文横孔的缩写