超声波探伤仪检测中参考试块的用途

　　一、参考试块的用途

　　1.测定仪器和探头的性能

　　2.在探伤过程中，调整和控制综合灵敏度不发生变化。

　　3.复查和控制以前使用仪器的标准(工作状态)。

　　4.区别材料的性质

　　参考试块是生产和使用仪器时，检查和控制其质量及工作状态的重要工具。现在通用的是I.I.W(或CSK-3)型参考试块。参考试块可以测定仪器的灵敏度、分辨力、盲区、扫描线线性、放大器线性、斜探头标志线、折射角度、方向性、斜探头在荧光屏上的真零点(即波束离开斜探头有机玻璃时的零点)等。而灵敏度、盲区、分辨力取决于仪器及探头的性能。

　　二、时间基线(扫描线)线性的测定 用直探头(纵波)测定，发射波调整在荧光屏的零点上。例如时间基线为0~100毫米时，将探头放在试块的A位置，以25毫米的多次反射波进行校正。微调扫描速度，使第一次反射波出现在25处，如果扫描线性好，第二、三、四次应分别与50、75、100刻度重合。否则多次反射波不成比例的出现在荧光屏上。

　　三、放大器线性的测定，将宇时先锋超声波探伤仪探头放在F位置的有机玻璃块上探测，有机玻璃的厚度相当于50毫米钢的厚度。测定时，灵敏度的控制由最小开至最大，高穿透力仪器有6~10个反射波，低穿透力的仪器只有2~4个反射波。

　　相对灵敏度测定，将宇时先锋超声波探伤仪探头放在C位置。灵敏度控制最初放在最小位置，移动探头，直到荧光屏上出现1.5毫米洞反射回的波为止。在给定的灵敏度控制位置下，反射的高度就是相对灵敏度。